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Study of the Electric Field-Induced Low Temperature Phase in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3: Titanium Influence 电场诱导Pb(Mg1/3Nb2/3)O3低温相的研究:钛的影响
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997182
O. Bidault, E. Husson, P. Gaucher
{"title":"Study of the Electric Field-Induced Low Temperature Phase in Pb(Mg1/3Nb2/3)O3: Titanium Influence","authors":"O. Bidault, E. Husson, P. Gaucher","doi":"10.1051/JP3:1997182","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997182","url":null,"abstract":"La variation en temperature de la constante dielectrique de ceramiques de composition (1 - x)Pb(Mg 1/3 Nb 2/3 )O 3 -xPbTiO 3 (0 ≤ x ≤ 0,1) est etudiee alors qu'un champ dc est applique a l'echantillon. La taille des regions ordonnees, parametre-cle pour comprendre la reponse du materiau, est reduite par l'introduction de titane. Une transition de phase ferroelectrique peut etre induite sous champ a partir de la phase cubique en moyenne. Si PMN est un relaxeur, ne transitant qu'a condition d'avoir E ≥ 4 kV cm -1 , la transition cubique → rhomboedrique devient spontanee pour PMN: 10 % Ti (a 280 K au refroidissement). De plus, pour tous les echantillons, la temperature T f , deduite de la relation de Vogel-Fulcher est systematiquement trouvee voisine de celle d'apparition de la phase polaire sous champ.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"1 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"129479473","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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The Inorganie Fluoride and Oxyfluoride Ferroelectrics 无机氟和氧化氟铁电体
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997175
J. Ravez
{"title":"The Inorganie Fluoride and Oxyfluoride Ferroelectrics","authors":"J. Ravez","doi":"10.1051/JP3:1997175","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997175","url":null,"abstract":"The ferroelectric fluorides belong to six families of type (NH4)2BeF4, BaMnF4, SrAlF5, Na2MgAlF7, K3Fe5F15 or Pb5Cr3F19. The oxyfluorides can be separated in two groups: i) the true oxyfluorides with a relatively high F/O value (K3MoO3F3, Na5W3O9F5, Pb5W3O9F10, Bi2TiO4F2, ...); ii) the compositions derived from ferroelectric oxides (perovskite, tetragonal tungsten bronze, pyrochlore, LiTaO3, ...) characterized by a continuous F-O substitution. The phase transitions and the physical properties are discussed. The origin of the spontaneous polarization is described structurally. The variations of the Curie temperature with the type of substitution are related to chemical bonding. The potential interest of these materials for applications is briefly given.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"79 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"124802750","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Radiation Effects in Thin-Film Ferroelectric PZT for Non-Volatile Memory Applications in Microelectronics 微电子非易失性存储器用薄膜铁电PZT的辐射效应
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997185
J. Leray, O. Musseau, P. Paillet, J. Autran, Frédéric Sodi, Y. Coic
{"title":"Radiation Effects in Thin-Film Ferroelectric PZT for Non-Volatile Memory Applications in Microelectronics","authors":"J. Leray, O. Musseau, P. Paillet, J. Autran, Frédéric Sodi, Y. Coic","doi":"10.1051/JP3:1997185","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997185","url":null,"abstract":"Cet article traite des effets des radiations ionisantes (rayons X ou γ) dans les materiaux ferroelectriques destines aux composants electroniques utilisant des couches minces polarisables (memoires non-volatiles). Apres avoir rappele les types d'observations, on propose certains mecanismes pour decrire ces effets dans les capacites a base de PZT. Les effets de fatigue du cycle d'hysteresis sont etudies et interpretes en les couplant aux effets d'une irradiation. Comme l'irradiation, la fatigue par cyclage montre un aplatissement des courbes d'hysteresis. Dans cet expose, on montre qu'il existe un parallele entre les effets des irradiations et de la fatigue. Un mecanisme est propose base sur le mouvement des parois de domaine et son empechement progressif par epinglage des parois.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"157 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"115443101","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Modélisation du cadre spatio-temporel d'une caméra à balayage de fente 缝隙扫描相机的时空框架建模
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997187
S. Verdelet, M. Gibert, G. Delaunay
{"title":"Modélisation du cadre spatio-temporel d'une caméra à balayage de fente","authors":"S. Verdelet, M. Gibert, G. Delaunay","doi":"10.1051/JP3:1997187","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997187","url":null,"abstract":"Cet article porte sur l'elaboration d'un modele geometrique du cadre spatio-temporel d'une camera a balayage de fente. Cette derniere sert de chronometre dans les experiences de detonique. Pour determiner le modele du cadre spatio-temporel, il est necessaire de determiner les axes physiques du plan camera a partir des axes images, grâce a l'emploi d'algorithmes du type moindres carres recursifs avec facteur d'oubli. La determination des parametres du modele va permettre d'ameliorer l'exactitude des mesures chronometriques effectuees, tout en assurant un suivi temporel des performances des cameras, pour detecter d'eventuels defauts, susceptibles d'apparaitre au cours de l'experience.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"143 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"125222026","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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De la modélisation a la commande non linéaire des convertisseurs multicellulaires série. Application à la fonction hacheur 从建模到串联多单元变换器的非线性控制。哈希函数的应用
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997188
Guillaume Gateau, P. Maussion, T. Meynard
{"title":"De la modélisation a la commande non linéaire des convertisseurs multicellulaires série. Application à la fonction hacheur","authors":"Guillaume Gateau, P. Maussion, T. Meynard","doi":"10.1051/JP3:1997188","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997188","url":null,"abstract":"La commande des convertisseurs statiques a structure classique est un domaine qui est a l'heure actuelle bien maitrise et a ete largement explore par de nombreux chercheurs au cours de ces dernieres annees. Avec l'arrivee de nouvelles structures de convertisseurs (multicellulaires), de nouveaux problemes en termes de commande sont apparus. Nous presenterons dans cet article une nouvelle approche developpee pour la commande d'un convertisseur multicellulaire en association serie. Apres quelques rappels sur la structure et l'aspect modelisation de ce type de convertisseur, nous presenterons une procedure de regulation utilisant le principe de linearisation exacte entrees/sorties. Nous terminerons cet article par la validation de ce type de commande a l'aide de simulations prenant en compte les problemes d'echantillonnage et d'implantation numerique.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"37 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"115439601","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Bi4Ti3O12 ferroelectric thin films : Morphology and electrical characteristics Bi4Ti3O12铁电薄膜:形貌与电学特性
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997179
F. Soares-Carvalho, I. Jauberteau, P. Thomas, J. Mercurio
{"title":"Bi4Ti3O12 ferroelectric thin films : Morphology and electrical characteristics","authors":"F. Soares-Carvalho, I. Jauberteau, P. Thomas, J. Mercurio","doi":"10.1051/JP3:1997179","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997179","url":null,"abstract":"Des couches minces de Bi 4 Ti 3 O 12 ont ete preparees par centrifugation a partir d'un alcoxyde mixte de bismuth et de titane sur des substrats Pt/TiO 2 /SiO 2 /Si. Des 480 °C, la phase Bi 4 Ti 3 O 12 est cristallisee. Une croissance des grains associee a une augmentation de la rugosite des films a ete observee avec le nombre croissant de couches. Les mesures de cycles d'hysteresis ont confirme le caractere ferroelectrique des films.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"19 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"115050044","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Détermination des contraintes résiduelles et de la microstructure intra-granulaire dans des films minces de W déposés par pulvérisation magnétron 磁控制喷雾沉积W薄膜残余应力和晶内组织的测定
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997186
V. Branger, N. Durand, A. Haghiri-Gosnet, K. Badawi, M. Ravet
{"title":"Détermination des contraintes résiduelles et de la microstructure intra-granulaire dans des films minces de W déposés par pulvérisation magnétron","authors":"V. Branger, N. Durand, A. Haghiri-Gosnet, K. Badawi, M. Ravet","doi":"10.1051/JP3:1997186","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997186","url":null,"abstract":"Cet article concerne l'etude des proprietes mecaniques et microstructurales de films minces de tungstene (700 nm sur Si (100)) elabores par pulverisation magnetron en fonction de la puissance R.F. Les contraintes totales presentes dans les films (determinees par la methode de la fleche) sont tres fortement influencees par la valeur de la puissance R.F. Elles varient de +1,2 GPa a -1,5 GPa pour des puissances de 350 W a 400 W. L'analyse par diffraction des rayons X a revele la presence de phase β-W dans certains depots. Pour ces films, nous avons determine les contraintes dans chaque phase par la methode des sin 2 ψ. Les mesures d'intensite integree des pics de diffraction nous ont permis d'evaluer la proportion des phases dans chaque film. Nous avons verifie le bon accord, en appliquant la regle des melanges, entre les valeurs des contraintes totales et celles calculees a partir des resultats de diffraction X. Nous avons montre que la presence de la phase β-W semble favorisee par un etat de tension des films (jusqu'a 60 % en volume pour des depots en tension de +1,2 GPa). Le parametre de maille libre de contrainte varie de facon spectaculaire. Il est tres superieur a celui du W massif pour les depots en compression (0,3173 nm au lieu de 0,3165 nm), et legerement inferieur pour ceux en tension (0,3164 nm).","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"77 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"129181293","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Influence of Torch Nozzle Geometry on Plasma Jet Properties 火炬喷嘴几何形状对等离子体射流性能的影响
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-06-01 DOI: 10.1051/JP3:1997192
O. H. Chang, A. Kamińska, M. Dudeck
{"title":"Influence of Torch Nozzle Geometry on Plasma Jet Properties","authors":"O. H. Chang, A. Kamińska, M. Dudeck","doi":"10.1051/JP3:1997192","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997192","url":null,"abstract":"L'influence de la geometrie de la tuyere d'une source de plasma a arc est etudiee en utilisant un modele hors-equilibre. Un code numerique a ete developpe pour resoudre numeriquement les equations de conservation de masse, de quantite de mouvement et d'energies a partir d'une methode de differences finies. Les distributions de pression, temperatures, densite electronique et vitesses ont ete etudiees pour differents angles et longueurs de la tuyere et la possibilite de creer une grande variete de jets de plasma en changeant la geometrie de la tuyere est demontree.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"15 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-06-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"122394710","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
引用次数: 10
Simulation numérique d'écoulement compressible dans les joints labyrinthe 迷宫接头可压缩流动的数值模拟
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-05-01 DOI: 10.1051/JP3:1997172
M. Sriti, M. Agouzoul, D. Ouazar, P. Micheau
{"title":"Simulation numérique d'écoulement compressible dans les joints labyrinthe","authors":"M. Sriti, M. Agouzoul, D. Ouazar, P. Micheau","doi":"10.1051/JP3:1997172","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997172","url":null,"abstract":"Les joints labyrinthe sont des dispositifs utilises dans les machines, ils servent a limiter les fuites a la traversee d'un carter (ou stator) par un arbre tournant (ou rotor) et eviter le frottement important aux vitesses de rotation elevees. Ces dispositifs, qui de plus, se comportent comme des paliers, peuvent modifier les caracteristiques dynamiques de la ligne d'arbre dans laquelle ils sont integres. Le travail presente a ete effectue dans le but de mieux maitriser les ecoulements dans les joints labyrinthe et de determiner leurs caracteristiques statiques (debit-pression) et dynamiques (coefficients de raideur et d'amortissement). Il s'appuie sur le developpement d'outils numeriques integrant dans les calculs globaux des resultats de calculs locaux (3D axisymetriques).","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"18 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-05-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"122525920","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Contribution de la stochasticité des lignes de champ magnétique au transport anormal dans un plasma confiné 磁场线的随机性对受限等离子体中异常输运的贡献
Journal De Physique Iii Pub Date : 1997-05-01 DOI: 10.1051/JP3:1997174
A. Oualyoudine, D. Saifaoui, A. Dezairi, A. Rouak
{"title":"Contribution de la stochasticité des lignes de champ magnétique au transport anormal dans un plasma confiné","authors":"A. Oualyoudine, D. Saifaoui, A. Dezairi, A. Rouak","doi":"10.1051/JP3:1997174","DOIUrl":"https://doi.org/10.1051/JP3:1997174","url":null,"abstract":"L'evolution de la stochasticite des lignes de champ magnetique a ete etudiee numeriquement en simulant les equations des lignes de champ. Nous avons mis au point une methode numerique qui permet d'etudier la transition de la stochasticite partielle a la stochasticite globale. Nous avons aussi etudie la diffusion des lignes de champ a travers les surfaces magnetiques en utilisant un modele du coefficient de diffusion que nous avons introduit. La dynamique non-gaussienne des lignes de champ a ete analysee a l'aide du parametre Kurtosis.","PeriodicalId":237595,"journal":{"name":"Journal De Physique Iii","volume":"15 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"1997-05-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"133226011","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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