{"title":"ИЗОЛИРОВАННЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ТОКА","authors":"В. Масалов","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78","url":null,"abstract":"В связи с перебоями поставок датчиков тока компании LEM группе разработчиков ООО «НТЦ АКТОР» была поставлена задача спроектировать измерительные преобразователи для их замены. В статье рассмотрены ключевые особенности гальванически изолированных измерительных преобразователей тока серии ДТК, разработанных «НТЦ АКТОР».","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"7 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470548","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"ВЛИЯНИЕ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ НА ПЛОСКУЮ ДЕФОРМАЦИЮ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ","authors":"С. Ванцов, О. Хомутская, Е. Лийн","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112","url":null,"abstract":"В настоящее время общим местом является обсуждение актуальности исследований в области технологии изготовления различного рода печатных плат. Увеличение плотности монтажа и повышение класса точности печатных плат приводит к увеличению требований к точности позиционирования элементов печатной платы (ПП). Особенно важным это требование становится в производстве многослойных плат, в которых несовмещение слоев может привести к неисправимому производственному браку. Последнее связано не столько с погрешностями выполнения отдельных технологических операций, сколько с характеристическими свойствами материала диэлектрического основания слоев печатной платы.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"21 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470856","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"ЭКБ ДЛЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ ОТРАСЛИ И НЕ ТОЛЬКО XII ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ЭКБ 2023»","authors":"Ю. Ковалевский","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37","url":null,"abstract":"Всероссийская научно-техническая конференция «ЭКБ» проходила в этом году в 12‑й раз. Мероприятие, состоявшееся в Москве 7–8 сентября 2023 года, было организовано АО «ТЕСТПРИБОР» совместно с АО «НИИЭТ», АО «Ангстрем», ОАО «Интеграл» и ГО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению». Его темой на этот раз стало обеспечение предприятий ракетно-космической отрасли электронной компонентной базой.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"2017 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470859","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ S-ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ РАЗЪЕМОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ВЕКТОРНЫХ АНАЛИЗАТОРОВ ЦЕПЕЙ","authors":"А. Крылов, Ф. Крекотень, А. Панков","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54","url":null,"abstract":"Рассматриваются методики измерений радиочастотных параметров разъемов, используемых в составе объединительных плат (backplane) с использованием векторных анализаторов цепей (ВАЦ). Представлены результаты измерений высокоскоростных разъемов, полученные с использованием охарактеризованного SOLR комплекта калибровочных мер и программного обеспечения исключения измерительной оснастки (АFR).","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"21 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470549","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"КАК ПРОТИВОСТОЯТЬ ГРЯДУЩИМ УГРОЗАМ ВЗЛОМА КРИПТОГРАФИЧЕСКИХ СИСТЕМ","authors":"Р. Шаховой, А. Лосев","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.22.23","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.22.23","url":null,"abstract":"Рассказывают руководитель научной группы компании QRate Р. А. Шаховой и руководитель отдела разработки ДОФ компании QRate А. В. Лосев","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"56 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470733","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"МИКРОЭЛЕКТРОНИКА: CHIPS ACT И РАСШИРЕНИЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЙ БАЗЫ В США","authors":"Б. Авдонин, М. Макушин","doi":"10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131","url":null,"abstract":"Основной целью принятого в прошлом году закона о стимулировании развития производства полупроводниковых приборов и науки в Америке (CHIPS and Science Act, далее – CHIPS Act) является развитие экосистемы полупроводниковой промышленности США. В свою очередь развитие этой национальной экосистемы должно помочь США вернуть лидирующие позиции в мировой микроэлектронике. При этом достичь этого предполагается прежде всего за счет изделий гражданского назначения – они составляют более 95% рынка ИС в целом. Несмотря на трудности с реализацией закона, за время его действия в отрасль удалось привлечь частные инвестиции, объем которых в четыре раза превышает объем обещанных федеральных налоговых стимулов. Число вновь создаваемых предприятий на данный момент составляет 10% от количества предприятий отрасли на момент принятия закона.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"36 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135470531","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"ИСПЫТАНИЯ НА ЭЛЕКТРОМАГНИТНУЮ СОВМЕСТИМОСТЬ","authors":"Д. Гришин","doi":"10.22184/1992-4178.2023.228.7.172.173","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.172.173","url":null,"abstract":"Испытательная лаборатория ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» располагает всеми необходимыми средствами измерения и испытательным оборудованием для проведения испытаний для подтверждения всех требований по электромагнитной совместимости.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"15 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135687192","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ С УЧЕТОМ СТОХАСТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ИХ КОМПОНЕНТОВ","authors":"Ю. Леган","doi":"10.22184/1992-4178.2023.228.7.146.155","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.146.155","url":null,"abstract":"Гражданская электроника – это направление обычно массового серийного производства электронных устройств. В массовом производстве важно достигать лучших экономических показателей, поэтому при проектировании электронных устройств требуется выполнять полноценное технико-экономическое прогнозирование, в том числе прогнозировать долю годных изделий. Критерием технической годности экземпляра устройства является нахождение целевых показателей производительности в пределах допустимых отклонений. В статье рассматривается способ расчета стохастических параметров электронных компонентов для устройств, который позволяет прогнозировать выход годных изделий и делать оптимальный выбор компонентов.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"91 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135687198","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ В СФЕРЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ОБОРУДОВАНИЯ: РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «ПРОТЕХ»","authors":"Ю. Коваль","doi":"10.22184/1992-4178.2023.228.7.178.183","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.178.183","url":null,"abstract":"С учетом политической и экономической обстановки в мире выбор российскими предприятиями отечественного оборудования становится все более обоснованным. Импортозамещение – тренд, который будет актуальным как минимум ближайшее десятилетие. Кроме того, предприятия, оснащенные оборудованием из санкционного списка, уже сейчас испытывают сложности с его обслуживанием. Идеальным вариантом решения данной проблемы было бы формирование на российском рынке системы замкнутого цикла, когда одно и то же производство является и поставщиком, и заказчиком. В этом случае важным звеном цепи являются компании-поставщики, хорошо знающие конъюнктуру и потребности рынка. Ярким примером такой компании является ООО «ПРОТЕХ», которое с 2007 года занимается оснащением и модернизацией предприятий в области радиоэлектроники и приборостроения.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"91 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135687207","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
{"title":"ОБЗОР ЗАЩИТНЫХ TVS-ДИОДОВ ОТ SHIKUES И SetFuse","authors":"В. Ежов","doi":"10.22184/1992-4178.2023.228.7.132.136","DOIUrl":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.132.136","url":null,"abstract":"Полупроводниковые компоненты производства компаний Shikues и SetFuse становятся все более популярными у российских производителей электроники. Высокое качество изготовления и надежность, отлаженный технологический процесс и быстрая поставка изделий – преимущества, которые делают востребованной продукцию этих компаний. Shikues предлагает широкий ассортимент компонентов: от диодов и транзисторов различных классов до операционных усилителей и ИС для управления питанием, а SetFuse специализируется на устройствах защиты – варисторах, тиристорах, TVS-диодах, предохранителях и др. В статье представлен обзор основных линеек защитных TVS-диодов, выпускаемых двумя компаниями, их особенности и области применения.","PeriodicalId":471437,"journal":{"name":"Электроника: наука, технология, бизнес","volume":"102 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2023-09-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"135686016","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}