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Anais do XI Workshop de Testes e Tolerância a Falhas (WTF 2010)最新文献

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Detecção e Correção de Falhas Transitórias Através da Descrição de Programas Usando Matrizes 通过使用矩阵的程序描述来检测和纠正瞬态故障
Anais do XI Workshop de Testes e Tolerância a Falhas (WTF 2010) Pub Date : 2010-05-28 DOI: 10.5753/wtf.2010.23101
R. Ferreira, Á. F. Moreira, L. Carro
{"title":"Detecção e Correção de Falhas Transitórias Através da Descrição de Programas Usando Matrizes","authors":"R. Ferreira, Á. F. Moreira, L. Carro","doi":"10.5753/wtf.2010.23101","DOIUrl":"https://doi.org/10.5753/wtf.2010.23101","url":null,"abstract":"Os avanços na fabricação de transistores têm permitido reduzir o tamanho da tecnologia, sustentando a Lei de Moore. Neste cenário, os sistemas embarcados serão projetados com margem reduzida para a implantação de técnicas de tolerância a falhas devido ao aumento no consumo de potência que essas técnicas requerem. Neste artigo, defendemos a detecção e correção (D&C) de falhas em nível de sistema através da codificação de quaisquer programas e algoritmos com matrizes. Essa codificação possibilita empregarmos técnicas estabelecidas de D&C de erros em matrizes, incorrendo em acréscimo inexpressivo de potência e energia. Avaliamos a nossa proposta através de dois estudos de caso relevantes para o domínio de sistemas embarcados, para os quais observamos em alguns casos decréscimo de somente 5% em desempenho e de aumento 8% em tamanho de programa.","PeriodicalId":309112,"journal":{"name":"Anais do XI Workshop de Testes e Tolerância a Falhas (WTF 2010)","volume":"10 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2010-05-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"133626764","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Um Framework de Geração de Dados de Teste para Critérios Estruturais Baseados em Código Objeto Java 基于Java对象代码的结构标准测试数据生成框架
Anais do XI Workshop de Testes e Tolerância a Falhas (WTF 2010) Pub Date : 2010-05-28 DOI: 10.5753/wtf.2010.23098
Lucilia Yoshie Araki, S. Vergilio
{"title":"Um Framework de Geração de Dados de Teste para Critérios Estruturais Baseados em Código Objeto Java","authors":"Lucilia Yoshie Araki, S. Vergilio","doi":"10.5753/wtf.2010.23098","DOIUrl":"https://doi.org/10.5753/wtf.2010.23098","url":null,"abstract":"O teste evolutivo de software orientado a objeto é uma área de pesquisa emergente. Algumas abordagens promissoras sobre o assunto são encontradas na literatura, entretanto, estas não consideram critérios propostos recentemente que utilizam o código objeto Java para obter os requisitos de teste. Além disso, os trabalhos geralmente não estão integrados a uma ferramenta de teste. Neste artigo, um framework, chamado TDSGen/OO para geração de dados de teste é descrito. TDSGen/OO utiliza Algoritmos Genéticos e trabalha de maneira integrada com a ferramenta JaBUTi, que implementa diferentes critérios de teste baseados no bytecode e em mecanismos de tratamento de exceções, permitindo o teste de componentes mesmo que o código fonte não esteja disponível. Alguns resultados preliminares são também apresentados que mostram benefícios no uso do framework.","PeriodicalId":309112,"journal":{"name":"Anais do XI Workshop de Testes e Tolerância a Falhas (WTF 2010)","volume":"3 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2010-05-28","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"129872546","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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