「国家优青」强强联手!薛其坤院士高徒,华中科技大学付英双/南大王锐,重磅Nature Nanotechnology!

顶刊收割机 2026-07-21 08:30
文章摘要
本文利用扫描隧道显微镜/谱技术,研究了激子绝缘体Ta2Pd3Te5中单个Te空位缺陷诱导的激子配对解离现象。背景方面,激子绝缘体中的束缚电子-空穴对凝聚体是研究关联量子态的理想平台,但局域配对如何演化为宏观相干性的机制尚不明确。研究目的旨在通过原子尺度的光谱学手段,直接观测杂质对激子对的破对效应及其空间分布特征。结论表明,单个Te空位在激子能隙内产生一对杂质诱导的亚能隙共振峰,其能量对缺陷构型高度敏感,并可通过针尖电场连续调控。光谱成像显示亚能隙态在空间上呈现各向异性分布,沿c轴和b轴的展宽显著不同,表明其电子-空穴成分存在耦合。在电子-空穴高度失衡的区域,还观察到第二类能量更低的亚能隙态,体现了不同激子序参量对应的配对解离之间的相互耦合。这些观测为理解激子凝聚过程中的临界行为提供了关键光谱证据。
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