![[Reliability of Compound Semiconductors] ROCS Workshop, 2005.](/Content/css/img/zetp.jpg)
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[Reliability of Compound Semiconductors] ROCS Workshop, 2005. - 最新文献
Thermal acceleration of compound semiconductors in humidity
Pub Date : 2005-12-27 DOI: 10.1109/ROCS.2005.201557 W. RoeschReliability investigation of metal-semiconductor diodes in an E/D pHEMT process
Pub Date : 2005-12-27 DOI: 10.1109/ROCS.2005.201564 S. Somisetty, P. Ersland, Xinxing YangAn investigation and comparison of 45-degree spread the modeland other techniques to extract junction temperature of HBT and PHEMT for reliability life test
Pub Date : 2005-12-27 DOI: 10.1109/ROCS.2005.201555 S.C. Chen, B. Hsiao, F. Chou, K. Yu, H. Chou, C. Wu
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