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IEEE European Test Workshop, 2001. - 最新文献
On hardware generation of random single input change test sequences
Pub Date : 2001-05-29 DOI: 10.1109/ETW.2001.946674 R. David, P. Girard, C. Landrault, S. Pravossoudovitch, A. VirazelReducing analogue fault-simulation time by using ifigh-level modelling in dotss for an industrial design
Pub Date : 2001-05-29 DOI: 10.1109/ETW.2001.946663 L. Fang, G. Gronthoud, H. KerkhoffReducing the susceptibility of design-for-delay-testability structures to process- and application-induced variations
Pub Date : 2001-05-29 DOI: 10.1109/ETW.2001.946658 H. Vermaak, H. Kerkhoff
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