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2009 IEEE 15th International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop - 最新文献
Mixed-signal testing using Walsh functions
Pub Date : 2009-06-10 DOI: 10.1109/IMS3TW.2009.5158700 Aurelien Tcheghoyz, S. Sattler, Helmut GrabyBIST-assisted power aware self healing RF circuits
Pub Date : 2009-06-10 DOI: 10.1109/IMS3TW.2009.5158691 S. Devarakond, Vishwanath Natarajan, Shreyas Sen, A. ChatterjeeTAC: Testing time reduction for digitally-calibrated designs
Pub Date : 2009-06-10 DOI: 10.1109/IMS3TW.2009.5158690 Hsiu-Ming Chang, K. Cheng
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