如何表征催化活性位点？

本文系统阐述了X射线光谱（XPS/XAS）、原位谱学（ATR-SEIRAS/DEMS）及理论计算（ΔG*H火山图、eg填充度）在催化研究中的核心应用。背景方面，X射线技术自1895年发现以来，已发展出多种分析技术，为研究材料的晶体结构、电子结构、化学组成和表面特性提供了重要手段。研究目的方面，催化作用通常涉及表面反应过程，表面原子的电子结构和配位环境是决定催化效率的关键因素，因此需要运用先进的分析表征技术深入解析活性中心的结构与性能之间的关系。结论方面，XPS和XAS等技术能够提供材料表面的电子结构和化学组成信息，而理论计算则通过引入活性描述符，在催化剂的微观结构特征与宏观催化性能之间建立了联系。