查看最新文献
订阅
分享
669发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems - 最新文献
Soft Core Embedded Processor Based Built-In Self-Test of FPGAs
Pub Date : 2010-03-07 DOI: 10.1109/SSST.2010.5442812 Bradley F. Dutton, C. StroudReliability and Performance Analysis of FPGA-Based Fault Tolerant System
Pub Date : 2009-10-07 DOI: 10.1109/DFT.2009.27 Ryoji Noji, S. Fujie, Yuki Yoshikawa, H. Ichihara, Tomoo InoueError Control Coding for Multilevel Cell Flash Memories Using Nonbinary Low-Density Parity-Check Codes
Pub Date : 2009-10-07 DOI: 10.1109/DFT.2009.25 Yuu Maeda, H. Kaneko
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
