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2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) - 最新文献
REPAIR: Hard-error recovery via re-execution
Pub Date : 2015-11-09 DOI: 10.1109/DFT.2015.7315139 Jyothish Soman, Negar Miralaei, A. Mycroft, Timothy M. JonesA fast and scalable fault injection framework to evaluate multi/many-core soft error reliability
Pub Date : 2015-11-09 DOI: 10.1109/DFT.2015.7315164 F. Rosa, F. Kastensmidt, R. Reis, Luciano OstEvaluating the impact of spike and flicker noise in phase change memories
Pub Date : 2015-11-09 DOI: 10.1109/DFT.2015.7315126 Salin Junsangsri, F. Lombardi, Jie Han
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