查看最新文献
订阅
分享
199发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
24th International Reliability Physics Symposium - 最新文献
Electromigration in Titanium Doped Aluminum Alloys
Pub Date : 1986-04-01 DOI: 10.1109/IRPS.1986.362104 J. Towner, Albertus C. Dirks, Tien TienField and Temperature Dependent Life-Time Limiting Effects of Metal-GaAs Interfaces of Device Structures Studied by XPS and Electrical Measurements
Pub Date : 1986-04-01 DOI: 10.1109/IRPS.1986.362124 J. Wurfl, H. HartnagelHigh Power Pulse Reliability of GaAs Power FETs
Pub Date : 1986-04-01 DOI: 10.1109/IRPS.1986.362125 W. Anderson, F. Buot, A. Christou, Y. Anand
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
