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2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - 最新文献
Measurement and Analysis of System-level ESD-induced Soft Failures of a Sense Amplifier Flip-Flop with Pseudo Differential Inputs
Pub Date : 2018-09-01 DOI: 10.23919/EOS/ESD.2018.8509690 Myeongjo Jeong, Junsik Park, Jinwoo Kim, M. Seung, Seokkiu Lee, Jingook KimSystem Level Esd Simulation In Spice: A Holistic Approach
Pub Date : 2018-09-01 DOI: 10.23919/EOS/ESD.2018.8509784 Y. Zhou, J. Hajjar, S. Parthasarathy, D. Clarke, Brian MoaneDevice Failure from the Initial Current Step of a CDM Discharge
Pub Date : 2018-09-01 DOI: 10.23919/EOS/ESD.2018.8509694 D. Johnsson, K. Domanski, H. Gossner
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