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Proceedings., International Test Conference - 最新文献
On path delay testing in a standard scan environment
Pub Date : 1994-10-02 DOI: 10.1109/TEST.1994.527947 P. VarmaTesting CMOS logic gates for: realistic shorts
Pub Date : 1994-10-02 DOI: 10.1109/TEST.1994.527981 Brian Chess, Anthony Freitas, F. Ferguson, T. LarrabeeA hierarchical environment for interactive test engineering
Pub Date : 1994-10-02 DOI: 10.1109/TEST.1994.527988 T. Burch, J. Hartmann, G. Hotz, M. Krallmann, U. Nikolaus, S. Reddy, U. Sparmann
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