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2010 IEEE International Test Conference - 最新文献
Increasing PRPG-based compression by delayed justification
Pub Date : 2010-12-15 DOI: 10.1109/TEST.2010.5699226 P. Wohl, J. Waicukauski, T. FinkleaThe scan-DFT features of AMD's next-generation microprocessor core
Pub Date : 2010-11-01 DOI: 10.1109/TEST.2010.5699203 Mahmut Yilmaz, Baosheng Wang, Jayalakshmi Rajaraman, Tom Olsen, K. Sobti, D. Elvey, J. Fitzgerald, G. Giles, Weiyu ChenHigh-Volume Scan Analysis: Practical challenges and applications for industrial IC development
Pub Date : 2010-11-01 DOI: 10.1109/TEST.2010.5699286 D. Carder, Steve Palosh, R. Raina
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