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Proceedings. 'Meeting the Tests of Time'., International Test Conference - 最新文献
The economics of scan design
Pub Date : 1989-08-29 DOI: 10.1109/TEST.1989.82377 M. Levitt, J. AbrahamHigh performance electron beam tester for voltage measurement on unpassivated and passivated devices
Pub Date : 1989-08-29 DOI: 10.1109/TEST.1989.82383 Y. Tokunaga, J. FrosienAn easily computed functional level testability measure
Pub Date : 1989-08-29 DOI: 10.1109/TEST.1989.82322 Kurt H. Thearling, J. Abraham
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