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2006 15th Asian Test Symposium - 最新文献
A Field Programmable Memory BIST Architecture Supporting Algorithms with Multiple Nested Loops
Pub Date : 2006-11-20 DOI: 10.1109/ATS.2006.9 Xiaogang Du, N. Mukherjee, Chris Hill, Wu-Tung Cheng, S. ReddyEnhanced A/D Converter Signal-to-Noise-Ratio Testing in the Presence of Sampling Clock Jitter
Pub Date : 2006-11-20 DOI: 10.1109/ATS.2006.47 Shalabh Goyal, A. Chatterjee, Yanan ShiehAutomation of IEEE 1149.6 Boundary Scan Synthesis in an ASIC Methodology
Pub Date : 2006-11-20 DOI: 10.1109/ATS.2006.32 Brian Foutz, V. Chickermane, Bing-Hung Li, Harry Linzer, Gary Kunselman
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