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IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, - 最新文献
A true testprocessor-per-pin algorithmic pattern generator
Pub Date : 1996-08-13 DOI: 10.1109/MTDT.1996.782500 K. Hilliges, J. SundermannA built in self test scheme for 256Meg sdram
Pub Date : 1996-08-13 DOI: 10.1109/MTDT.1996.782485 F. Hii, T. Powell, D. Cline
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