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Twenty-Second Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement And Management Symposium - 最新文献
Measurement and simulation of stacked die thermal resistances
Pub Date : 2009-10-13 DOI: 10.1109/TCAPT.2009.2028813 B. Joiner, J. M. de Oca, S. NeelakantanOptimized thermo-reflectance system for measuring the thermal properties of thin-films and their interfaces
Pub Date : 2006-03-14 DOI: 10.1109/STHERM.2006.1625211 M. Burzo, P. Komarov, P. RaadASTM D 5470 TIM material testing
Pub Date : 2006-03-14 DOI: 10.1109/STHERM.2006.1625205 Kevin Hanson
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