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2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
Efficient built-in self test of regular logic characterization vehicles
Pub Date : 2015-04-27 DOI: 10.1109/VTS.2015.7116303 Ben Niewenhuis, R. D. BlantonAbstraction-based relation mining for functional test generation
Pub Date : 2015-04-27 DOI: 10.1109/VTS.2015.7116286 K. Gent, M. HsiaoStatistical techniques for predicting system-level failure using stress-test data
Pub Date : 2015-04-27 DOI: 10.1109/VTS.2015.7116260 Harry H. Chen, Shih-Hua Kuo, Jonathan Tung, M. Chao
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