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2012 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography - 最新文献
Circuit Simulation for Fault Sensitivity Analysis and Its Application to Cryptographic LSI
Pub Date : 2012-09-09 DOI: 10.1109/FDTC.2012.17 T. Sugawara, D. Suzuki, T. KatashitaTechniques for EM Fault Injection: Equipments and Experimental Results
Pub Date : 2012-09-09 DOI: 10.1109/FDTC.2012.21 P. MaurineHarnessing Biased Faults in Attacks on ECC-Based Signature Schemes
Pub Date : 2012-09-09 DOI: 10.1109/FDTC.2012.13 K. Järvinen, Céline Blondeau, D. Page, Michael Tunstall
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