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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - 最新文献
An age-aware library for reliability simulation of digital ICs
Pub Date : 2013-06-18 DOI: 10.1109/IRPS.2013.6531973 M. Katoozi, E. Cannon, T. Dao, K. Aitken, S. Fischer, T. Amort, R. Brees, J. TostenrudeEarly failure model analysis and improvement of the upstream electromigration in 45nm Cu low-k interconnects
Pub Date : 2013-04-14 DOI: 10.1109/IRPS.2013.6532076 D. Wang, A. Zhao, L. Yu, J. Wu, V. Chang, W. ChienReliability study of carbon-doped GST stack robust against Pb-free soldering reflow
Pub Date : 2013-04-14 DOI: 10.1109/IRPS.2013.6532099 S. Souiki, Q. Hubert, G. Navarro, A. Persico, C. Jahan, E. Henaff, V. Delaye, D. Blachier, V. Sousa, L. Perniola, E. Vianello, B. De Salvo
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