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ICMTS 93 Proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures - 最新文献
A new method for the experimental determination of the control gate and drain coupling ratios in FLOTOX EEPROM cells
Pub Date : 1993-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1993.292904 C. Papadas, B. Moison, G. Ghibaudo, P. Mortini, G. PanankakisEvaluation technique of gate oxide damage
Pub Date : 1993-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1993.292878 Y. Uraoka, K. Eriguchi, T. Tamaki, K. TsujiA new test device for detecting very low leakage current using DRAM cell array
Pub Date : 1993-03-22 DOI: 10.1109/ICMTS.1993.292879 T. Oasa, H. Inada, M. Fujito, T. Matsumoto
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