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Microscopy of Semiconducting Materials, 1983 - 最新文献
Spatial distribution of donors in MOCVD ZnSe
Pub Date : 2020-11-25 DOI: 10.1201/9781003069614-51 S. Roberts, M. Grande, J. Batstone, J. Steeds, P. J. Dean, P. J. Wright, B. CockayneHigh resolution electron microscopy of II–VI compound semiconductors
Pub Date : 2020-11-25 DOI: 10.1201/9781003069614-16 R. Sinclair, F. Ponce, T. Yamashita, David J. SmithThe atomic structure of the NiSi2/(001) Si interface
Pub Date : 2020-11-25 DOI: 10.1201/9781003069614-14 C. Hetherington, D. Cherns, C. Humphreys
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