研究透视：透射电镜EF-4D-STEM，半导体短程有序 | Science
今日新材料
2025-09-27 11:30
文章摘要
背景：短程有序（SRO）是指原子在短距离内的偏好排布，在半导体中，其理论预测与电子能带结构的重要变化相关，但实验证据稀缺。研究目的：本研究旨在利用先进的能量过滤四维扫描透射电子显微镜（EF-4D-STEM）和机器学习模拟，识别并证实锗-硅-锡半导体中短程有序的存在，并确定其原子结构基序。结论：研究成功揭示了Si–Ge–Sn三重态等优先排序，直接证实了短程有序的存在，并展示了其作为能带工程第三自由度的应用潜力，为半导体材料设计提供了新方向。
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