电迁移感知的内存层次结构架构 | MDPI JLPEA

本文研究了芯片工艺微缩背景下金属互连线路的电迁移问题，提出了一种从微架构层面优化内存层次结构的方法。研究通过均衡写操作负载来缓解局部高切换率引发的电迁移热点，具体采用周期性映射旋转机制，使写请求在所有存储单元间轮换分配。实验结果表明，该方法显著提升了内存系统的寿命，L1数据缓存的寿命至少提高了2.5倍，同时对性能、面积和功耗的影响极小。这一架构优化为高密度工艺节点下的存储系统设计提供了新的可靠性保障，尤其适用于自动驾驶、医疗等任务关键型应用。