什么计算上的数据能说明化学键的强度？

本文围绕密度泛函理论（DFT）框架下化学键强度的分析方法展开讨论。背景上，化学键强度分析对理解分子稳定性和反应性至关重要，传统经验方法无法满足高精度需求。研究目的方面，文章介绍了三种主流方法：键解离能（BDE）通过均裂反应能量差量化键稳定性；自然键轨道（NBO）分析从电子结构层面揭示键的成因；原子间电子密度拓扑（AIM）通过电子密度参数判定键本质。结论指出，这三种方法从能量、轨道和电子密度三个维度互补联用，能够全面解析键本质，为分子稳定性预测和新型功能材料设计提供理论支持。