如何测量SEM/TEM电镜颗粒尺寸？

本文主要讨论了纳米材料颗粒尺寸对其性能的重要影响，并详细介绍了如何使用Nano Measurer和Origin软件对SEM/TEM电镜图片进行颗粒尺寸的统计分析和可视化处理。文章首先强调了纳米尺度下量子效应、表面效应和尺寸效应对材料性能的显著影响，随后逐步讲解了从打开图片、标记标尺、测量尺寸到使用Origin进行数据分析和作图的完整流程。最后，文章提供了获取Nano Measurer软件的途径。