2025年中国学者的首篇Science子刊被撤回

本文讨论了有机场效应晶体管（OFETs）的运行稳定性问题，指出介电介质和有机半导体界面上的缺陷和陷阱是影响稳定性的关键因素。2024年9月6日，天津大学的研究团队在Science Advances上发表了一篇研究论文，揭示了自热效应也是影响运行稳定性的重要因素。然而，由于数据异常，该论文在2025年1月29日被撤回。撤回的原因包括图1H的数据点异常，图4A和图S12的图形被彩色掩模覆盖，以及图2D中设备尺寸的印记被错误修改。所有作者均同意撤稿。