Npj Comput. Mater.: 揭秘纳米世界：四维STEM与AI的先进成像技术

本文介绍了四维扫描透射电子显微镜（4D-STEM）与机器学习结合在纳米尺度成像和结构分析中的应用。文章探讨了高动态范围直接电子探测器在提高成像分辨率和速度方面的突破，以及4D-STEM在信息密度方面的优势。然而，由于缺乏经验模型和信噪比变化，4D-STEM数据的分析面临挑战。为此，作者提出了一种基于卷积自编码器的机器学习方法，用于解开铁电材料中的结构特征，如铁电畴、畴壁和涡旋结构。该方法不仅适用于特定材料，还具有广泛的应用潜力，为高维成像模式提供了新的分析工具，推动了结构-性质关系研究的进步。