哈工大陈国庆教授团队Acta Materialia：原子尺度揭示Nb/GH3128电子束焊接接头界面反应层断裂机理

本文由哈尔滨工业大学陈国庆教授团队与伦敦玛丽女王大学Chinnapat Panwisawas教授合作，在《Acta Materialia》发表的研究论文，探讨了Nb与GH3128电子束焊接接头中Laves/Ni6Nb7界面反应层的断裂机理。研究通过透射电镜和第一性原理计算，揭示了界面反应层的结构及其在拉伸过程中的断裂行为。研究发现，界面重构提高了界面的稳定性，但Nb-Ni原子键的弱键合导致界面在拉伸时首先失效，影响了焊接接头的力学性能。研究结果为优化Nb与GH3128电子束焊接工艺提供了理论依据。