BIST module for mixed-signal circuits

Proceedings 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Cat. No.98EX223) Pub Date : 1998-11-02 DOI:10.1109/DFTVS.1998.732185

S. Demidenko, V. Piuri, V. Yarmolik, A. Shmidman

引用次数: 3

Abstract

T-flip-flop implementation of the universal module (signature analyzer and test generator) for built-in self-test of mixed signal circuits is proposed and analyzed.

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用于混合信号电路的BIST模块

提出并分析了用于混合信号电路内置自检的通用模块(签名分析仪和测试发生器)的t触发器实现。

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Proceedings 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Cat. No.98EX223)

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