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Proceedings 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Cat. No.98EX223) - 最新文献
A new method for testing EEPLAs
Pub Date : 1998-11-02 DOI: 10.1109/DFTVS.1998.732161 A. Munshi, F. Meyer, F. LombardiA comparison of efficient dot throwing and shape shifting extra material critical area estimation
Pub Date : 1998-11-02 DOI: 10.1109/DFTVS.1998.732150 G. A. AllanHigh-level synthesis of data paths with concurrent error detection
Pub Date : 1998-11-02 DOI: 10.1109/DFTVS.1998.732178 A. Antola, V. Piuri, M. Sami
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