Compendium of Single Event Effect Results from NASA Goddard Space Flight Center

2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 2016-07-11 DOI:10.1109/NSREC.2016.7891706

M. O’Bryan, K. Label, C. M. Szabo, Dakai Chen, M. Campola, M. Casey, J. Lauenstein, E. Wilcox, R. Ladbury, Stanley A. Ikpe, J. Pellish, M. Berg

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Abstract

We present the results of single event effect (SEE) testing and analysis investigating the effects of radiation on electronics. This paper is a summary of test results.

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美国宇航局戈达德太空飞行中心单事件效应结果汇编

我们介绍了单事件效应(SEE)测试和分析的结果，研究了辐射对电子器件的影响。本文是对试验结果的总结。

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