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2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - 最新文献
Design and Test of Xilinx Embedded ECC for MicroBlaze Processors
Pub Date : 2016-07-28 DOI: 10.1109/NSREC.2016.7891709 Z. Baker, H. QuinnHeavy-Ion Testing Results for Several Commercial and Military Grade Parts
Pub Date : 2016-07-11 DOI: 10.1109/NSREC.2016.7891719 Benjamin R. Buck, K. Bojanowski, A. CunninghamSingle Event Effects Testing of a Commercial-Off-The-Shelf Analog-To-Digital Converter in a Camera Application
Pub Date : 2016-07-11 DOI: 10.1109/NSREC.2016.7891739 M. Campola, C. Thayer, J. Doty, E. Wilcox
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