Model-based I/sub DDQ/ pass/fail limit setting

Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat. No.98EX232) Pub Date : 1998-11-12 DOI:10.1109/IDDQ.1998.730731

T. A. Unni, D. Walker

引用次数: 15

Abstract

This paper describes several methods for setting LDDQ pass/fail limits using cell-based process, circuit and logic simulation. We demonstrate trade-offs in accuracy and model building effort on the ISCAS85 circuits.

查看原文本刊更多论文

基于模型的I/sub DDQ/通过/失败限制设置

本文介绍了几种利用基于单元的工艺、电路和逻辑仿真来设定LDDQ合格/不合格限制的方法。我们在ISCAS85电路上演示了准确性和模型构建工作的权衡。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat. No.98EX232)

自引率

0.00%

发文量