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Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat. No.98EX232) - 最新文献
Off chip monitors and built in current sensors for analogue and mixed signal testing
Pub Date : 1998-11-12 DOI: 10.1109/IDDQ.1998.730758 Y. Maidon, Y. Deval, H. ManhaeveCMOS SRAM functional test with quiescent write supply current
Pub Date : 1998-11-12 DOI: 10.1109/IDDQ.1998.730724 M. Hashizume, T. Tamesada, T. Koyama, A. van de GoorDesign-for-Iddq-testing for embedded cores based system-on-a-chip
Pub Date : 1998-11-12 DOI: 10.1109/IDDQ.1998.730769 R. Rajsuman
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