Pin margin analysis

Proceedings International Test Conference 1997 Pub Date : 1997-11-01 DOI:10.1109/TEST.1997.639677

R. E. Huston

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Abstract

A method and tool is described to increase test program standards and lower program maintenance cost through Pin Margin Analysis. Exposure of DUT and ATE characteristics during test program operation will lead to maximizing test margins.

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销钉裕度分析

介绍了一种通过引脚裕度分析提高测试程序标准和降低程序维护成本的方法和工具。在测试程序操作期间暴露DUT和ATE特性将导致测试裕度最大化。

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Proceedings International Test Conference 1997

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