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Proceedings International Test Conference 1997 - 最新文献
Test access of TAP'ed and non-TAP'ed cores
Pub Date : 1997-11-03 DOI: 10.1109/TEST.1997.639730 L. WhetselWhy would an ASIC foundry accept anything less than full scan?
Pub Date : 1997-11-03 DOI: 10.1109/TEST.1997.639721 S. F. OaklandPutting the squeeze on test sequences
Pub Date : 1997-11-03 DOI: 10.1109/TEST.1997.639685 E. Rudnick, J. Patel
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