Radiation Evaluation of the TPS7H3301-SP Linear Regulator for Double Data Rate (DDR) Applications

2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/NSREC.2016.7891727

J. Cruz-Colon, M. Hamlyn, V. Zhu, B. A. Dahl, T. Trinh, R. Baumann

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Abstract

Abstract- Single Events Effect (SEE) and Total Ionizing Dose (TID) results for a new Double Data Rate (DDR) linear voltage regulator are summarized, demonstrating robust SEE performance up to LETeff=65.1 MeV-cm2/mg and TID up to 100k Rads(Si).

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双数据速率(DDR)应用中TPS7H3301-SP线性稳压器的辐射评估

摘要:总结了一种新型双数据速率(DDR)线性稳压器的单事件效应(SEE)和总电离剂量(TID)结果，显示出稳健的SEE性能，LETeff高达65.1 MeV-cm2/mg, TID高达100k Rads(Si)。

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2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)

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