Recent advances in BIST

Digest of Papers. 1992 IEEE VLSI Test Symposium Pub Date : 1992-04-07 DOI:10.1109/VTEST.1992.232758

S. Gupta

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Abstract

The author briefly reviews various recent results in data compression for BIST. His primary focus is on MISR compression, considering the practical design issues that interest a designer. Issues related to the choice of error model, feedback polynomial, and suitable test lengths are discussed.<>

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BIST的最新进展

作者简要回顾了近年来在BIST数据压缩方面的各种研究成果。他主要关注的是MISR压缩，考虑到设计师感兴趣的实际设计问题。讨论了误差模型、反馈多项式和合适的测试长度的选择等问题。

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Digest of Papers. 1992 IEEE VLSI Test Symposium

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