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Digest of Papers. 1992 IEEE VLSI Test Symposium - 最新文献
Analysis of the die test optimization algorithm for negative binomial yield statistics
Pub Date : 1992-04-07 DOI: 10.1109/VTEST.1992.232745 C. M. Krishna, A. SinghThe roles of controllability and observability in design for test
Pub Date : 1992-04-07 DOI: 10.1109/VTEST.1992.232754 K. Butler, R. Kapur, M. R. Mercer, D. RossA mixed signal tester solution for: standards traceable AC calibration of analog modules
Pub Date : 1992-04-07 DOI: 10.1109/VTEST.1992.232729 M. F. Abate
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