ELDRS Characterization to 300 krad of Texas Instruments High Speed Amplifier LMH6702

2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/NSREC.2016.7891713

K. Kruckmeyer, T. Trinh

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Abstract

TI's LMH6702 (5962F0254601VxA) was tested to 300 krad at a dose rate of 10 mrad/s. Testing to 300 krad took one year. The LMH6702 was found to be ELDRS free.

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300克拉德州仪器高速放大器LMH6702的ELDRS特性

TI的LMH6702 (5962F0254601VxA)在10 mrad/s的剂量率下测试到300 krad。测试到300克拉花了一年时间。发现LMH6702不含ELDRS。

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2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)

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