Testability strategy of the Alpha AXP 21164 microprocessor

Proceedings., International Test Conference Pub Date : 1994-10-02 DOI:10.1109/TEST.1994.527935

D. Bhavsar, J. Edmondson

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Abstract

This paper describes the testability strategy and design-for-test features of the Alpha AXP 21164 microprocessor. It discusses the specific testability and manufacturability issues of the chip and the innovative solutions employed to solve them.

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Alpha AXP 21164微处理器的可测试性策略

本文介绍了Alpha AXP 21164微处理器的可测试性策略和面向测试的设计特点。讨论了芯片的具体可测试性和可制造性问题以及解决这些问题的创新解决方案。

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Proceedings., International Test Conference

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