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2012 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) - 最新文献
Variation-aware study of BJT-based capacitorless DRAM cell scaling limit
Pub Date : 2012-06-10 DOI: 10.1109/SNW.2012.6243319 M. H. Cho, W. Kwon, N. Xu, T. K. LiuEvaluation of scattering in asymmetric quasi-ballistic DG-MOSFET
Pub Date : 2012-06-10 DOI: 10.1109/SNW.2012.6243301 Gai Liu, G. Du, Tiao Lu, Xiaoyan Liu, Pingwen Zhang, Xing ZhangStatistical variability study of a 10nm gate length SOI FinFET device
Pub Date : 2012-06-10 DOI: 10.1109/SNW.2012.6243343 B. Cheng, A. Brown, Xingsheng Wang, A. Asenov
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