IEEE Transactions on Reliability

IEEE Transactions on Reliability
期刊缩写:
IEEE Trans. Reliab.
影响因子:
5
ISSN:
print: 0018-9529
on-line: 1558-1721
研究领域:
工程技术-工程:电子与电气
h-index:
86
自引率:
8.50%
Gold OA文章占比:
16.74%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
IEEE Transactions on Reliability is a refereed journal for the reliability and allied disciplines including, but not limited to, maintainability, physics of failure, life testing, prognostics, design and manufacture for reliability, reliability for systems of systems, network availability, mission success, warranty, safety, and various measures of effectiveness. Topics eligible for publication range from hardware to software, from materials to systems, from consumer and industrial devices to manufacturing plants, from individual items to networks, from techniques for making things better to ways of predicting and measuring behavior in the field. As an engineering subject that supports new and existing technologies, we constantly expand into new areas of the assurance sciences.
期刊介绍中文:
IEEE Transactions on Reliability 是一份可靠性及相关学科的参考期刊,包括但不限于可维护性、故障物理、寿命测试、预测、可靠性设计和制造、系统可靠性、网络可用性、任务成功、保修、安全和各种有效性措施。适合发表的主题范围从硬件到软件,从材料到系统,从消费者和工业设备到制造工厂,从单个项目到网络,从使事情变得更好的技术到预测和测量现场行为的方法。作为支持新技术和现有技术的工程学科,我们不断扩展到保障科学的新领域。
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
12.21.5111.989
学科
排名
百分位
大类:Engineering
小类:Safety, Risk, Reliability and Quality
7 / 207
96%
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
57 / 797
92%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
2区 计算机科学
2区 计算机:硬件 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
2区 计算机:软件工程 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
2区 工程:电子与电气 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
WOS期刊分区
学科分类
Q1COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
Q1COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
Q1ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
历年影响因子
2015年2.2870
2016年2.7900
2017年2.7290
2018年2.8880
2019年3.1770
2020年4.4240
2021年5.8830
2022年5.9000
2023年5.0000
历年发表
2012年131
2013年114
2014年94
2015年140
2016年189
2017年142
2018年126
2019年121
2020年117
2021年176
2022年153
投稿信息
出版周期:
Quarterly
出版语言:
English
出版国家(地区):
UNITED STATES
接受率:
100%
审稿时长:
7.5 months
出版商:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
编辑部地址:
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141

IEEE Transactions on Reliability - 最新文献

Generalized Zero-Shot Learning for Fault Diagnosis in High-Speed Train Bogies Based on Enhanced Diffusion Generative Models

Pub Date : 2024-09-18 DOI: 10.1109/tr.2024.3425437 Na Qin, Yirui Yin, Deqing Huang, Yiting You, Ranyang Hou

Two-Stage Distributionally Robust Optimization for Infrastructure Resilience Enhancement: A Case Study of 220 kV Power Substations Under Earthquake Disasters

Pub Date : 2024-09-17 DOI: 10.1109/tr.2024.3450107 Changjie Zou, Kai Wang, Tangfan Xiahou, Di Cao, Yu Liu

Enhancing Reliability of Steel Production Lines Through Advanced Knowledge Graph-Based Fault Diagnosis Model

Pub Date : 2024-09-16 DOI: 10.1109/tr.2024.3425859 Huihui Han, Jian Wang, Xiaowen Wang
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