IEEE Design & Test of Computers

528

期刊缩写：

IEEE DES TEST COMPUT

ISSN：

print: 0740-7475

研究领域：

工程技术-工程：电子与电气

创刊年份：

1984年

Gold OA文章占比：

0.00%

原创研究文献占比：

0.00%

期刊官网：

发文信息

历年影响因子

历年发表

投稿信息

出版周期：

Bimonthly

出版国家(地区)：

UNITED STATES

审稿时长：

>12 weeks

投稿网址：

编辑部地址：

IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314

PubMed链接：

IEEE Design & Test of Computers - 最新文献

Pub Date : 2020-12-08 DOI: 10.1109/MDT.2012.2184662 P. Gulak, Rajesh K. Gupta, G. Setti, Y. Zorian

Pub Date : 2019-01-01 DOI: 10.1145/3373394.3373397 Jorge A. Pérez

Pub Date : 2018-07-30 DOI: 10.1145/3236644.3236648 Michael Rovatsos

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