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Digest of Papers IEEE International Workshop on IDDQ Testing - 最新文献
On-line CMOS BICS: an experimental study
Pub Date : 1997-11-05 DOI: 10.1109/IDDQ.1997.633019 Y. Maidon, Y. Deval, F. Verdier, J. Bégueret, J. DomA high-speed low-voltage built-in current sensor
Pub Date : 1997-11-05 DOI: 10.1109/IDDQ.1997.633020 Tsung-Chu Huang, Min-Cheng Huang, Kuen-Jong LeeSTEM: a framework for simulating and selecting I/sub DDQ/ measurement points for leakage faults
Pub Date : 1997-11-05 DOI: 10.1109/IDDQ.1997.633014 S. Chakravarty, S. Zachariah, P. J. Thadikaran
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