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2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop (NATW) - 最新文献
One more time! Increasing fault detection with scan shift capture
Pub Date : 2018-05-07 DOI: 10.1109/NATW.2018.8388862 Hui Jiang, Fanchen Zhang, Yi Sun, Jennifer DworakEnabling fast process variation and fault simulation through macromodelling of analog components
Pub Date : 2018-05-07 DOI: 10.1109/NATW.2018.8388861 Mehmet Ince, E. Yilmaz, S. OzevCase study on low pin count testing of industry transceiver chip
Pub Date : 2018-05-01 DOI: 10.1109/NATW.2018.8388868 Imtiaz Ahmed, Subhash Baraiya, Rahul Singhal
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