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2007 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing - 最新文献
The polarity dependence of ONO thickness for wrapped-select-gate (WSG) SONOS memory
Pub Date : 2007-12-03 DOI: 10.1109/MTDT.2007.4547617 Kuan-Ti Wang, T. Chao, Woei-Cherng Wu, Chao‐Sung LaiFuture challenges and opportunities of the memory industry
Pub Date : 2007-12-03 DOI: 10.1109/MTDT.2007.4547602 Changhyun KimA novel poly-Si nanowire TFT for nonvolatile memory applications
Pub Date : 2007-12-03 DOI: 10.1109/MTDT.2007.4547618 H. Hsu, Horng-Chih Lin, Jian-Fu Huang, Tiao-Yuan Huang
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