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2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - 最新文献
Exploration of system availability during software-based self-testing in many-core systems under test latency constraints
Pub Date : 2014-11-24 DOI: 10.1109/DFT.2014.6962088 M. Skitsas, C. Nicopoulos, M. MichaelUnifying scan compression
Pub Date : 2014-11-24 DOI: 10.1109/DFT.2014.6962079 Swapnil Bahl, Shrey Rungta, Shray Khullar, R. Kapur, A. Chandra, S. Talluto, Pramod Notiyath, Ajay RajagopalanSAM: A comprehensive mechanism for accessing embedded sensors in modern SoCs
Pub Date : 2014-11-24 DOI: 10.1109/DFT.2014.6962097 M. He, M. Tehranipoor
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